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Microscopio de fuerza atómica
Un microscopio de barrido de alta resolución
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El microscopio de fuerza atómica (AFM, de sus siglas en inglés Atomic Force Microscope) es un instrumento mecano-óptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewtons. Al rastrear una muestra, es capaz de registrar continuamente su topografía mediante una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica. La sonda va acoplada a un listón o palanca microscópica muy flexible de sólo unos 200 µm. El microscopio de fuerza atómica ha sido esencial en el desarrollo de la nanotecnología, para la caracterización y visualización de muestras a dimensiones nanométricas ({\displaystyle 10^{-9}m=1nm}{\displaystyle 10^{-9}m=1nm}).
Diagrama de un microscopio de fuerza atómica
Historia
Comparación del AFM con otros microscopios
Principales restricciones y observaciones en su uso
Instrumentación
Precisión
Tipos de medidas, modos de operación y aplicaciones
Referencias
Enlaces externos
Última edición hace 1 mes por SeroBOT
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